各类电子元器件失效机理解析
2023-10-28 10:08:05
晨欣小编
电子元器件的失效机理可以分为多种类型，主要取决于元器件的种类、工作环境、使用条件等。以下是一些常见的电子元器件失效机理的解析：
电阻元件（电阻器、电位器）：
热失效：长时间高电流或高功率工作导致电阻元件内部温度升高，引发电阻值漂移或增大。
氧化：氧化层的形成和增长导致电阻值升高。
机械磨损：电位器滑动部件的磨损可以导致不稳定性和电阻值变化。
电容元件：
电解液失效：电解电容中的电解液可能会干燥或泄漏，导致电容值下降。
极化效应：非电解电容受电压极化，时间越久电容值可能下降。
温度效应：电容元件的容值会随温度变化而变化。
半导体器件（二极管、晶体管）：
热失效：过高的工作温度可能导致半导体器件性能下降或故障。
电压击穿：过高电压施加在二极管上可能损坏它。
漏电流增加：晶体管漏电流可能随时间增加，导致性能下降。
集成电路（IC）：
金属迁移：金属层之间的离子迁移可能导致短路或断路。
功耗失效：过高的功耗可能导致温度升高，损坏或减少器件寿命。
电压击穿：高电压冲击可能损坏IC内部结构。
传感器：
磨损：物理接触型传感器，如旋转编码器，可能因机械磨损而失效。
灵敏度变化：环境条件（温度、湿度）的变化可能导致传感器的灵敏度发生变化。
电磁元件
售前客服