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片式膜电阻器过电应力失效模式及机理研究

 

2023-11-20 10:41:54

晨欣小编

片式膜电阻器是一种常见的电子元件,常用于电路中的电阻调节、电流限制和信号衰减等功能。过电应力失效是片式膜电阻器寿命缩短或失效的一种常见模式。下面是对片式膜电阻器过电应力失效模式及机理的简要研究。

过电应力失效是指片式膜电阻器在超出其额定电压或电流范围时,会发生失效或寿命缩短的现象。这种失效模式主要与以下几个因素有关:

  1. 电压应力:当片式膜电阻器承受超过其额定电压的电压应力时,电阻器内部的薄膜可能会受到电压击穿或电弧放电的影响,导致薄膜烧毁或损坏。

  2. 电流负载:过大的电流负载会导致片式膜电阻器内部产生过多的热量,超过其能够承受的范围,从而引起薄膜烧毁或损坏。

  3. 温度:片式膜电阻器的工作温度超出其额定温度范围时,会加速薄膜的老化和损坏,导致失效。

  4. 环境因素:如潮湿、腐蚀性气体等环境因素也可能对片式膜电阻器的寿命产生负面影响。

为了研究片式膜电阻器的过电应力失效模式及机理,可以进行以下工作:

  1. 实验测试:通过在不同电压、电流和温度条件下对片式膜电阻器进行实验测试,观察其失效情况,并记录相关数据。

  2. 材料分析:对失效的片式膜电阻器进行材料分析,包括薄膜的成分、结构和性能等方面,以确定失效的具体机理。

  3. 数值模拟:使用数值模拟方法,对片式膜电阻器的电场分布、温度分布等进行模拟计算,以预测和分析失效的原因和机理。

通过以上研究方法,可以更深入地了解片式膜电阻器过电应力失效的模式和机理,并为设计和制造更可靠的片式膜电阻器提供指导。


 

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