厚膜片式电阻器是一种常用的电子元件，用于限流、分压、调节电流和增加电路的稳定性。为了确保厚膜片式电阻器的质量和性能，需要进行特性测试。

常规厚膜片式电阻器特性测试方法包括以下几个方面：

1. 静态特性测试：通过测量电阻器的阻值来评估其静态特性。这个测试通常是在标准温度和湿度条件下进行的。测试过程中需要使用万用表或电阻测试仪来测量电阻器的阻值，并与制造商提供的标准数值进行比较。

2. 温度特性测试：电阻器的阻值通常会随着温度的变化而变化。为了评估电阻器在不同温度下的表现，需要进行温度特性测试。这个测试通常是在恒温箱或烤箱中进行的，通过改变温度来检查电阻器的阻值是否符合规定的误差范围。

3. 功率特性测试：电阻器在工作时会消耗一定的功率，为了评估电阻器在不同功率下的性能，需要进行功率特性测试。这个测试通常是在不同的功率负载下进行的，通过测量电阻器的温升来评估其功率特性。

4. 耐压测试：电阻器在工作时可能会受到一定的电压冲击，为了评估电阻器的耐压性能，需要进行耐压测试。这个测试通常是在高电压下进行的，通过检查电阻器在高电压下的绝缘性能来评估其耐压性能。

5. 寿命测试：为了评估电阻器的可靠性和使用寿命，需要进行寿命测试。这个测试通常是在加速条件下进行的，通过模拟电阻器在长期使用时可能遇到的环境条件来评估其寿命。

通过以上常规厚膜片式电阻器特性测试方法，可以全面评估电阻器的质量和性能，确保其在工作时能够稳定可靠地工作。希望厂家和用户能够认真对待电阻器的测试工作，提高电路的可靠性和稳定性。