在计算机网络领域中，探针卡（Probe Card）是一种用于测试集成电路芯片的关键工具。它能够将测试信号传输到芯片，以便在生产过程中对芯片的电气性能进行全面的测试和分析。

探针卡通常由探针头和卡片两部分构成，其中探针头用于与芯片接触，而卡片则负责将测试信号输入至探针头。探针头上通常安装了多个微小的、高精度的探针，这些探针能够与芯片的引脚进行准确的接触，以确保测试信号能够被准确地传输到芯片内部。

探针卡根据其用途和特点可以分为多种类型。比较常见的类型包括非接触式探针卡、高频探针卡、多端口探针卡等。

非接触式探针卡通常用于高性能芯片的测试，它们通过无需直接接触芯片的方式，通过无线电频率来进行测试，能够降低对芯片的破坏性，并提高测试效率。

高频探针卡则专门用于测试需要高频率信号的芯片，这种探针卡的探针头通常设计得更加精细，能够确保在高频条件下的准确测试。

多端口探针卡则常用于测试复杂芯片或多功能芯片，它们具有多个输入/输出端口，能够同时对芯片的多个功能模块进行测试，提高测试效率和准确性。

总的来说，探针卡作为一种重要的测试工具，在集成电路制造和研发过程中起着不可替代的作用。通过使用不同类型的探针卡，可以实现对不同类型芯片的全面、精准测试，从而保证芯片的质量和性能符合要求。