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电路设计中常见错误汇总与规避技巧详解

 

2025-06-04 16:24:37

晨欣小编

一、电源设计常见错误及规避方法

1.1 忽视电源去耦电容布局

错误表现: 仅在电源输入端放置一个大容量电容,忽视关键IC附近的高速去耦。

后果分析:

  • 高频噪声无法被滤除

  • 电源纹波过大

  • 易出现电源完整性(PI)问题

规避技巧:

  • 在每个关键IC电源引脚附近放置0.1μF、1μF、10μF等组合电容

  • 尽量靠近引脚布置,走线短粗

  • 大容量电容远离芯片,负责低频滤波

1.2 电源与地的走线过细或共享

错误表现: 多个器件共用一条电源线或地线,宽度不足。

后果分析:

  • 电压降过大,造成工作不稳定

  • 地电位偏移,影响模拟电路精度

规避技巧:

  • 电源线和地线根据电流密度计算宽度

  • 高频电路尽量采用面(Plane)代替线

  • 使用星形接地或多点接地,降低地电位差


二、信号布线相关错误与优化建议

2.1 信号走线太长或不合理绕行

错误表现: 高速信号路径复杂,绕来绕去。

后果分析:

  • 信号延时和反射问题加重

  • 容易引起串扰和EMI问题

规避技巧:

  • 高频信号线优先布线,路径最短直线化

  • 减少过孔数量,避免T型和交叉走线

  • 差分线长度匹配,间距恒定

2.2 忽略阻抗匹配

错误表现: 高速信号线宽、介质层厚度未根据阻抗匹配要求计算

后果分析:

  • 反射严重,信号完整性差

  • 接收端信号畸变、误触发

规避技巧:

  • 使用阻抗计算工具(如Polar、Altium)计算目标阻抗(一般为50Ω单端、100Ω差分)

  • 按照板材、层叠结构定制走线宽度与间距

  • 必要时添加串联电阻或终端电阻匹配


三、器件布局不合理导致的隐患

3.1 高频器件远离连接点

错误表现: 振荡器、放大器等高频元件远离负载或相关接口

后果分析:

  • 信号路径过长,失真严重

  • EMC辐射风险上升

规避技巧:

  • 高频器件靠近接口布局,路径尽量短直

  • 模拟/数字/射频电路分区清晰

  • 使用地隔离、屏蔽等方式降低干扰

3.2 器件引脚未考虑热设计

错误表现: 功耗器件(如LDO、MOSFET)布置紧密,缺乏散热通道

后果分析:

  • 热堆积造成器件提前老化甚至烧毁

  • 降低系统可靠性

规避技巧:

  • 为发热器件设计散热铜皮与通孔

  • 加入热敏器件监测或风冷系统

  • 合理布局,避免功耗器件集中区域


四、地平面设计错误与电磁兼容问题

4.1 地平面被切割或不连续

错误表现: 多层PCB中地层穿孔、布线切割严重

后果分析:

  • 信号回流路径中断,产生电磁干扰

  • 共模干扰加剧,EMC测试不合格

规避技巧:

  • 保持整块连续地平面

  • 高速信号线不跨越地缝,保持同层回流路径

  • 多地系统采用单点接地或过磁珠隔离

4.2 缺乏屏蔽与滤波措施

错误表现: 关键信号线裸露、接口处无滤波

后果分析:

  • EMI发射增强,干扰邻近电路

  • 易受到外部EFT/ESD干扰

规避技巧:

  • 外部接口加TVS二极管+磁珠+旁路电容组合

  • RF信号走线靠近地平面,必要时加屏蔽罩

  • 布线远离边缘,降低天线效应


五、原理图设计错误类型与避免方式

5.1 引脚连接错误或悬空

错误表现: 模拟输入未接电位参考、控制引脚未定义状态

后果分析:

  • 产生不可预知逻辑状态

  • 系统工作不稳定

规避技巧:

  • 每个IC引脚明确连接目的:输入、输出、NC、浮空

  • 对未使用引脚按手册建议处理

  • 设置ERC(Electrical Rule Check)校验规则

5.2 电源连接逻辑混乱

错误表现: 多个芯片供电共用不同电压电源

后果分析:

  • 电压不兼容烧毁芯片

  • 上电/掉电序问题引发锁死

规避技巧:

  • 详细阅读芯片规格书,确认供电范围和电源顺序

  • 用不同LDO或DC-DC隔离不同电压域

  • 加入上电延时电路或电源管理芯片(PMIC)


六、测试与调试阶段常见设计遗漏

6.1 缺乏调试测试点

错误表现: PCB上无丝印测试孔或接口

后果分析:

  • 调试困难,无法快速排查问题

  • 维护维修周期长

规避技巧:

  • 保留关键节点的测试点(如电源、时钟、复位线)

  • 添加UART、JTAG等调试口

  • 关键IO口可跳线切换或通过0Ω电阻灵活控制

6.2 接口静电防护缺失

错误表现: USB、HDMI等接口未做ESD保护设计

后果分析:

  • 外部插拔时击穿芯片

  • 系统稳定性下降

规避技巧:

  • 所有外接接口加入TVS二极管

  • USB/HDMI等使用ESD阵列IC

  • 保证地良好连接外壳接地面


七、总结与工程建议

电路设计过程中,很多错误表面看似微不足道,但在实际应用中可能导致严重后果。系统性、规范化、严谨性的设计流程才是避免错误、提升产品质量的关键。

建议工程师养成以下设计习惯:

  • 设计前详细阅读器件Datasheet与应用指南

  • 原理图、PCB双向联查,避免低级疏漏

  • 使用EDA工具进行DRC/ERC校验

  • 使用仿真工具验证信号完整性、电源完整性

  • 每次设计都记录问题并总结Checklist以便后续复用


 

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